植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系。可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透光率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射等。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析及農(nóng)業(yè)科研工作。
植物冠層分析儀工作原理：采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。
LAI-2200C植物冠層分析儀利用“魚眼”光學(xué)傳感器（垂直視野范圍148°，水平視野范圍360°）測量樹冠上、下5個角度的透射光線，利用植被樹冠的輻射轉(zhuǎn)移模型計算葉面積指數(shù)、平均葉傾角、空隙比、聚集度指數(shù)等樹冠結(jié)構(gòu)參數(shù)。
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